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半導體激光器GB/T 31359

2025-09-01 16:31:23
閱讀:次

GB/T 31359-2015《半導體激光器測試方法》是中國國家標準,規(guī)定了半導體激光器主要光電參數(shù)的測試方法,適

用于波長范圍400 nm~2000 nm的單管、陣列及模塊化半導體激光器的性能評估。以下是該標準的主要測試內(nèi)容和

要求:


測試項目

光學參數(shù)測試

輸出光功率測試:測量連續(xù)或脈沖工作狀態(tài)下的輸出光功率。

平均功率測試:測量脈沖激光器的平均光功率。

峰值功率測試:測量脈沖激光器的峰值光功率。

脈沖能量測試:測量脈沖激光器每個脈沖的能量。

輸出功率不穩(wěn)定度測試:評估輸出光功率的波動情況。

輸出能量不穩(wěn)定度測試:評估脈沖激光器輸出脈沖能量的穩(wěn)定性。

波長測試

峰值波長:測量發(fā)射光譜中強度最高的波長。

波長-溫度漂移系數(shù):評估波長隨溫度變化的特性。

光譜寬度測試:測量發(fā)射光譜的寬度,反映單色性。

中心波長測試:確定發(fā)射光譜的中心位置。

偏振度測試:測量輸出光的偏振特性。

光強分布測試:測量輸出光束在空間中的強度分布。

光束寬度測試:測量輸出光束的寬度,評估光束質(zhì)量。

發(fā)散角測試

快軸發(fā)散角:測量光束在快軸方向上的發(fā)散角度。

慢軸發(fā)散角:測量光束在慢軸方向上的發(fā)散角度。

邊模抑制比測試:評估主模與邊模之間的功率比,反映單模特性。

光束質(zhì)量因子測試:綜合評估光束質(zhì)量。


電學參數(shù)測試

工作電流測試:測量正常工作時所需的電流。

工作電壓測試:測量正常工作時兩端的電壓。

閾值電流測試:確定開始產(chǎn)生激光輸出所需的最小電流。

斜率效率測試:評估輸出光功率與注入電流之間的線性關(guān)系斜率。

電光轉(zhuǎn)換效率測試:計算將電能轉(zhuǎn)換為光能的效率。

其他參數(shù)測試

重復頻率測試:測量脈沖激光器的脈沖重復頻率。

脈沖寬度測試:測量脈沖激光器每個脈沖的持續(xù)時間。

截止頻率測試:評估在調(diào)制信號作用下能夠正常工作的最高頻率。


測試條件及要求

環(huán)境要求:測試應(yīng)在受控的實驗室環(huán)境中進行,環(huán)境溫度穩(wěn)定在25℃±1℃,相對濕度控制在45%~75%范圍內(nèi)。

測試儀器及計量要求:測試儀器量程需滿足被測激光器參數(shù)范圍,精度范圍至少優(yōu)于被測指標誤差4倍以上,且符合

計量檢定要求。

激光安全要求:測試過程中需符合激光安全標準。

被測產(chǎn)品正常工作要求:保證被測激光器在測試時處于正常工作狀態(tài)。


測試流程

樣品準備:激光器需在標準環(huán)境(25℃±1℃)下穩(wěn)定30分鐘。

P-I/V-I測試:逐步增加驅(qū)動電流,記錄輸出功率和正向電壓。

光譜測試:在額定電流下,用光譜儀測量激光光譜。

光束質(zhì)量測試:采用CCD相機或光束分析儀測量遠場光斑。

溫度循環(huán)測試:在不同溫度下重復P-I測試,評估溫度穩(wěn)定性。


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